簡介
本文提供了使用基于PXI的Marvin數(shù)字子系統(tǒng)替換Trendar / Fluke 3050B數(shù)字子系統(tǒng)的方法。該方法僅針對Fluke 3050B的數(shù)字測試功能的一部分，參考文檔基于1983年2月的3050B數(shù)字/模擬測試系統(tǒng)手冊（Rev. 1,2 / 8）獲得的信息。
背景
Fluke 3050B測試系統(tǒng)為PCBA提供自動數(shù)字和模擬的功能測試。通過連接器適配器與UUT連接，該連接器適配器連接到（4）156針ZIF連接器。圖1為系統(tǒng)圖片。
圖1：Fluke 3050B系統(tǒng)
3050B具有兩種pass/fail測試模式 - 比較模式和簽名模式。比較模式通過比較已確定為良好的UUT和被測UUT之間的數(shù)字刺激響應(yīng)來實現(xiàn)；將I/O引腳狀態(tài)，電路板的IC夾具和邏輯探針逐步進行比較。簽名模式僅使用單個板，并且通過將UUT的I/O引腳生成的CRC（循環(huán)冗余校驗）簽名與先前測試的已知良好板的簽名進行比較，實現(xiàn)pass/fail決策。
3050B還包括使用稱為ADS環(huán)境進行故障診斷，該環(huán)境是一種引導(dǎo)探測算法，可以根據(jù)UUT原理圖，拓撲和組件進行故障診斷。ADS執(zhí)行診斷所需的輸入包括：
IC類型和位置文件
IC類型定義文件
優(yōu)先級節(jié)點文件（可選）
從 - 到互連文件
板邊優(yōu)先文件（可選）
標簽文件（用于文檔）
3050B提供了兩個探測器，用于監(jiān)視/比較UUT上的節(jié)點。探頭邏輯閾值可選擇1 V，2 V，5 V，7 V或可變（-10至+10 V）。IC夾（16針）的使用具有類似的特性，可變范圍為0至+10V
3050B數(shù)字子系統(tǒng)的主要功能總結(jié)如下：
最多240個I / O引腳，以32引腳為增量; 基本配置是64針
低電平驅(qū)動器輸出小于或等于0.7 V @ 10 mA
高電平驅(qū)動器輸出可通過連接器適配器中的跳線,進行編程選擇（輸出范圍見圖2）
驅(qū)動器測試速率：1 MHz，（某些模式下為2 MHz）
接收器閾值范圍：基于驅(qū)動器電壓電平的1.8 V至3.5 V（見圖3）
存儲序列：最多2048 bits
測試長度：可編程為20K，40K，100K，200K，400K，1M，2M，4M，10M，20M，40M
測試儀時鐘頻率：可編程為1 Hz至9.99 MHz的3位數(shù)字
圖2：輸出驅(qū)動器范圍
圖3：接收器閾值范圍
序列執(zhí)行包括以下功能：
將四個引腳組中的任何一個從當前模式切換到自動序列,存儲序列或高阻抗
根據(jù)編程的自動序列算法，在自動序列模式下更改引腳組中的驅(qū)動器狀態(tài)
根據(jù)編程的存儲順序，在存儲序列模式下更改引腳組中驅(qū)動程序的狀態(tài)
啟用或禁用所有接收器
執(zhí)行下表中定義的存儲序列的操作碼
圖4：存儲序列的操作碼
3050B數(shù)字子系統(tǒng)更換
替換3050B的數(shù)字子系統(tǒng)為Marvin的6U PXI GX5055數(shù)字I / O卡，該板卡可以提供32個數(shù)字I / O通道和更寬驅(qū)動/檢測電壓范圍（-14 V至+25 V）。為了容納240個引腳，該子系統(tǒng)將包含（8）GX5055數(shù)字I / O卡，安裝在GX7005高功率PXI機箱中。該數(shù)字子系統(tǒng)可以工作在50 MHz，具有可編程壓擺率，有助于匹配3050B的驅(qū)動器性能特性。此外，子系統(tǒng)還具有每引腳和每個測試步進方向控制以及可編程的每個引腳驅(qū)動/檢測電平。所有這些功能都提供了靈活性，便于將3050B測試程序適配/遷移到所提出的數(shù)字子系統(tǒng)。如上文所述，3050B支持多種測試模式，包括比較和簽名模式的pass/fail測試。 下面詳細介紹了基于GX5055數(shù)字子系統(tǒng)的功能和差異：
簽名模式，僅pass/fail。簽名模式的使用需要計算來自UUT的獲取數(shù)據(jù)的CRC，然后與已知的良好設(shè)備的CRC進行比較。GX5055不支持CRC計算，因此需要在系統(tǒng)控制器（PC）采集后完成，不過這就要求CRC計算方法已知。
如果可以從已知的良好UUT獲得刺激/響應(yīng)矢量，則可以支持比較模式。已知的良好測試向量將應(yīng)用于UUT，響應(yīng)將由GX5055的內(nèi)存捕獲。在采集后，將來自UUT的采集的矢量與已知的良好矢量進行比較。GX5055的功能庫包括支持此比較功能的函數(shù)。請注意，盡管3050B僅支持2K向量，但序列長度可能高達40M。GX5055支持最長512K的序列長度，因此對于長序列（> 512K），測試和比較過程需要分成多個序列。
概念子系統(tǒng)沒有規(guī)定將引導(dǎo)探針算法用于故障診斷。探針可以連接到備用DIO通道，但探針算法的開發(fā)將由最終用戶負責。
GX5055數(shù)字子系統(tǒng)與支持存儲序列模式最為一致。GX5055的矢量深度為2K vectors，遠大于3050B。但是，GX5055的序列深度限制為512K。 3050B支持40M的序列。 GX5055的操作碼非常類似于3050B，這有助于重新托管存儲序列。對于大序列，需要加載多個序列并將其作為多個突發(fā)執(zhí)行。
采用GX5055數(shù)字子系統(tǒng)進行3050B更換 - 注意事項
GX5055子系統(tǒng)（圖5）可以提供3050B支持的基本數(shù)字測試功能。
圖5：GX7005機箱和數(shù)字子系統(tǒng)
作為此替換解決方案的一部分，需要考慮的其他問題包括：
夾具：需要構(gòu)建適配器以使3050B的連接器適配器/測試接口適應(yīng)GX5055的I / O連接器?；蛘?，需要構(gòu)建新的固定裝置/布線。Marvin為GX5055數(shù)字子系統(tǒng)提供了由Virginia Panel和Mac Panel提供的多種不同質(zhì)量終端接口。
軟件：需要創(chuàng)建一種遷移3050B測試向量和相關(guān)測試程序的方法。GX5055數(shù)字子系統(tǒng)的控制是通過現(xiàn)代基于文本的語言（如C或 Marvin ATEasy®）完成的，通過基于PC的控制器顯示/控制測試程序。與3050B測試程序關(guān)聯(lián)的任何操作員界面都需要遷移到基于PC的環(huán)境。
3050B特定波形：3050B支持各種復(fù)雜波形以及時鐘，格雷碼時鐘和八相時鐘。如果要遷移的測試程序需要這些波形，則需要用戶創(chuàng)建它們作為測試程序遷移過程的一部分。這些波形與自動序列相關(guān)聯(lián)，自動序列由3050B的自動序列處理器生成。
通過/失敗測試模式：如前文所述，3050B支持兩種模式 - 比較模式和簽名模式。如果為程序遷移工作實現(xiàn)簽名模式，則用戶將需要知道已知的良好CRC簽名以及完全了解如何計算CRC簽名。
引導(dǎo)探頭：數(shù)字子系統(tǒng)未隨附任何引導(dǎo)探頭軟件。最終用戶需要開發(fā)任何診斷程序。
