2025年4月18日，鼎陽(yáng)科技正式推出全新SNA5000X-E系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。該產(chǎn)品具備9 kHz至26.5 GHz的測(cè)量范圍、117 dB動(dòng)態(tài)范圍及智能化操作體驗(yàn)，支持S參數(shù)測(cè)量、差分（平衡）測(cè)量、接收機(jī)測(cè)量、時(shí)域分析、TDR、帶寬分析、阻抗轉(zhuǎn)換、端口匹配、去嵌功能、頻譜分析功能等，起價(jià)僅為39880元，為研發(fā)團(tuán)隊(duì)、教育實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)線提供高性?xún)r(jià)比的測(cè)試工具，助力客戶(hù)高效完成射頻器件驗(yàn)證與常規(guī)高頻測(cè)試任務(wù)。

1、寬頻段高動(dòng)態(tài)范圍，滿(mǎn)足精密器件測(cè)試需求

SNA5000X-E支持9 kHz~26.5 GHz連續(xù)頻率掃描，其動(dòng)態(tài)范圍可達(dá)117 dB，結(jié)合0.05 dB幅度分辨率與1 Hz頻率分辨率，能精準(zhǔn)捕捉微弱信號(hào)，滿(mǎn)足高Q值濾波器等精密器件的嚴(yán)苛測(cè)試需求。

2、多維度功能集成，應(yīng)對(duì)多元行業(yè)挑戰(zhàn)

SNA5000X-E矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀通過(guò)集成多項(xiàng)實(shí)用功能，幫助用戶(hù)高效應(yīng)對(duì)不同行業(yè)的測(cè)試挑戰(zhàn)。

便捷地消除夾具效應(yīng)

在微波射頻測(cè)試中，夾具引入的誤差往往會(huì)影響測(cè)量精度。SNA5000X-E可通過(guò)多項(xiàng)功能系統(tǒng)性解決夾具誤差難題：

端口延伸：當(dāng)被測(cè)器件距離較遠(yuǎn)或需通過(guò)線纜連接時(shí)，輸入線纜參數(shù)（如長(zhǎng)度、損耗），即可將測(cè)量參考點(diǎn)延伸至目標(biāo)位置，自動(dòng)補(bǔ)償線纜帶來(lái)的延遲與損耗誤差。

去嵌入功能：通過(guò)導(dǎo)入夾具的電氣模型（S參數(shù)），從測(cè)量結(jié)果中反向剝離夾具的插損、反射等影響，直接呈現(xiàn)被測(cè)器件的真實(shí)性能。

阻抗轉(zhuǎn)換與匹配：支持端口阻抗靈活調(diào)整，適配不同接口標(biāo)準(zhǔn)的夾具，進(jìn)一步減少阻抗失配帶來(lái)的干擾。

這些功能可覆蓋遠(yuǎn)程測(cè)試、復(fù)雜夾具校準(zhǔn)等多種場(chǎng)景，確保測(cè)量數(shù)據(jù)真實(shí)可靠。

時(shí)域分析功能

隨著數(shù)字系統(tǒng)信號(hào)處理速度的提升，在時(shí)域和頻域內(nèi)快速、精確地測(cè)量和分析互連器件性能，已成為保障系統(tǒng)性能的關(guān)鍵

SNA5000X-E具備時(shí)域分析功能（TDA），能對(duì)器件的時(shí)域特性進(jìn)行分析。時(shí)域反射計(jì)（TDR）功能可進(jìn)行故障點(diǎn)定位，還可以方便地消除部分特定類(lèi)型的失配對(duì)頻域測(cè)量的影響，得到排除故障后的預(yù)期頻域特性，便于分析故障對(duì)器件特性的影響。

TDA功能

TDR功能

SNA5000X-E還搭載了眼圖功能，為需要對(duì)高速信號(hào)進(jìn)行時(shí)域分析、高速信號(hào)完整性分析的客戶(hù)節(jié)省了大量成本和時(shí)間。

眼圖功能

3、智能化操作，讓效率與精度并存

SNA5000X-E系列具備12.1英寸觸摸屏，支持多窗口顯示，工程師可同時(shí)觀察多個(gè)S參數(shù)，數(shù)據(jù)對(duì)比一目了然。同時(shí)，SNA5000X-E也支持包括群時(shí)延、史密斯圖等多種數(shù)據(jù)顯示格式，支持高頻測(cè)量與濾波器特性一鍵分析，快速獲取插入損耗、帶寬等關(guān)鍵指標(biāo)，還支持公式輸入功能，讓每一次測(cè)試都更便捷。