9月7日，第二屆集成電路檢測及測試技術(shù)與未來發(fā)展國際高峰論壇在江蘇南通舉辦。此次高峰論壇由集成電路產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟指導，由中國半導體行業(yè)協(xié)會、國家集成電路產(chǎn)業(yè)投資基金支持，由南通市人民政府與集成電路測試儀器與裝備產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新聯(lián)盟合主辦，由南通市電子信息產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟與通富微電股份有限公司聯(lián)合承辦。

南通市副市長趙聞斌介紹了南通的歷史環(huán)境和產(chǎn)業(yè)優(yōu)勢。當前，南通正全力打造“3+3+N”現(xiàn)代產(chǎn)業(yè)體系，并把新一代信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)作為重點打造的引領(lǐng)性、龍頭性、地標性產(chǎn)業(yè)。此次論壇以信息技術(shù)與制造技術(shù)深度融合為主線，并希望各位專家暢所欲言，為南通集成電路持續(xù)、合作、共贏的產(chǎn)業(yè)發(fā)展環(huán)境建言獻策。

電路產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟理事長曹健林指出，隨著集成電路產(chǎn)業(yè)不斷發(fā)展，專用的檢測及裝備迎來了歷史發(fā)展良機，中國市場已具備了技術(shù)和財力，只需要團結(jié)起來更好地融合到中國的發(fā)展中。此次國際高峰論壇的召開，將對進一步促進國內(nèi)外集成電路檢測及測試技術(shù)領(lǐng)域的交流與合作、推進集成電路領(lǐng)域產(chǎn)業(yè)鏈上下游的深度合作具有深刻意義。

中國科學院微電子研究所所長、測試聯(lián)盟理事長葉甜春在致辭中指出，檢測和測試是集成電路不可或缺的環(huán)節(jié)，也是比較弱的環(huán)節(jié)，重大專項實施10年，集成電路有了長足進展，但產(chǎn)業(yè)布局中測試仍為短板，需咬緊牙關(guān)，實現(xiàn)全面的突破與提升，并在國際產(chǎn)業(yè)鏈要占有重要的位置。

同時，他指出，面向未來的發(fā)展，中國集成電路產(chǎn)業(yè)無疑還有巨大的發(fā)展?jié)摿?，產(chǎn)品多樣化提出了更高的測試技術(shù)需求，測試產(chǎn)業(yè)未來會有更大的發(fā)展空間。測試聯(lián)盟的成立和規(guī)劃建立的集成電路“測谷”，其目的就是適應產(chǎn)業(yè)的形勢變化與需求，圍繞產(chǎn)業(yè)發(fā)展急需，聚集產(chǎn)業(yè)優(yōu)勢力量，聚焦、聚能、聚力，共同謀求發(fā)展。

國家集成電路產(chǎn)業(yè)投資基金股份有限公司總裁丁文武在講話中提出了更多的發(fā)展建議，包括政策與環(huán)境、產(chǎn)業(yè)鏈聯(lián)動協(xié)調(diào)、資本互動，引進培養(yǎng)人才，開放交流等，希望通過會議為測試行業(yè)發(fā)展搭建平臺，讓專家讓企業(yè)家為產(chǎn)業(yè)發(fā)展獻計獻策，為中國芯的實現(xiàn)做出貢獻。

國家科技重大專項電子信息領(lǐng)域監(jiān)督評估專家組專家鄭敏政代表測試聯(lián)盟專家咨詢委發(fā)言，他表示，測試技術(shù)與裝備需要探索創(chuàng)新方法、創(chuàng)新技術(shù)，在大形勢之下借助全產(chǎn)業(yè)鏈的發(fā)展互動，走出一條有特色的快速發(fā)展之路。

本次國際高峰論壇以“集成電路檢測及測試平臺與產(chǎn)業(yè)鏈建設”為主題，旨在進一步促進集成電路檢測與測試技術(shù)領(lǐng)域的廣泛交流與合作，探討面臨的挑戰(zhàn)與未來發(fā)展。會議邀請了Mentor Graphics、電子科技大學、長鑫存儲、上海御渡、北京智芯微電子、北京華大九天等國際、國內(nèi)知名學者和產(chǎn)業(yè)龍頭企業(yè)圍繞ATE機臺、光學檢測、EDA設計測試等方面，進行了主題報告，并舉辦沙龍討論，就測試與設計、測試開發(fā)、測試設備、測試管理、驅(qū)動測試、測試分析等在功率器件、存儲器等共同關(guān)心的相關(guān)問題進行深入的交流和研討。

當前，國家全面深化改革，發(fā)展壯大新動能，加快制造強國建設，其中集成電路產(chǎn)業(yè)始終是中國國家科技與產(chǎn)業(yè)支持的重點。