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電子電路研發(fā)過程中的微小溫差,F(xiàn)LIR T560也能精準(zhǔn)捕獲!

在電子電路中,溫度一直是一個非常重要的參數(shù),絕大多數(shù)器件的可靠性都和其溫度特性相關(guān)。哪怕是極其微小的器件溫度變化,都可能對電子電路的運行造成很大的影響,而過熱則很大概率引發(fā)主板故障。如何在體積日漸變小的電子元器件中精準(zhǔn)發(fā)現(xiàn)溫度異常?非接觸檢測的熱像儀是個不錯的選擇!


紅外熱像儀應(yīng)用在電子行業(yè)中,可以用來實現(xiàn)集成電路檢測,如低壓電路板溫度檢測、高溫箱電路板設(shè)計檢測;實現(xiàn)半導(dǎo)體材料缺陷檢測,如太陽能電池板缺陷檢測、硅錠質(zhì)量檢測;實現(xiàn)芯片級微距檢測,如LED芯片檢測;實現(xiàn)電子電氣設(shè)備檢測,如激光器質(zhì)量檢測、光纖質(zhì)量檢測等。


熱像儀:及時發(fā)現(xiàn)電路板設(shè)計的故障


在電路板設(shè)計的過程中,為保證電路板工作順利進(jìn)行,設(shè)計人員需要對電路板中的電子元器件進(jìn)行溫度檢測,觀察元器件的溫度負(fù)載情況,以免出現(xiàn)短路、斷路和接觸不良等情況。


在電路發(fā)生短路的過程中,電路板上肯定會有局部溫度過高的情況出現(xiàn),斷路則會產(chǎn)生局部的溫度會比其他地方低的情況,所以利用這一點就很容易通過引入紅外熱像儀判斷電路的故障點。



用戶可選擇使用FLIR T560高清紅外熱像儀,640×480的紅外分辨率加FLIR專利技術(shù)MSX®(專利號:201380073584.9)和專有自適應(yīng)濾波算法,可清晰顯示電路板上元器件溫度的分布情況,如果需要進(jìn)一步確認(rèn),還能通過手動精準(zhǔn)調(diào)焦,清晰地觀察高溫點故障元器件類別和位置。


微距模式:幫助看清小體積器件的溫差


現(xiàn)如今電子產(chǎn)品尺寸日益微縮,最常見的表面貼裝式PCBA部件的尺寸范圍可從0603(1.6mm×0.8mm)到最小的0201(0.6mm×0.3mm)。普通的熱像儀也許很難分辨其細(xì)小的溫差,為精確測量這些部件的溫度,您需要空間分辨率更加精細(xì)的檢測。如果選購一款如此極致分辨率的熱像儀費用會很高,但菲力爾可提供更優(yōu)惠的解決方案!


微距模式下的PCBA紅外熱成像


配備標(biāo)準(zhǔn)24?鏡頭和微距模式的FLIR T560專業(yè)紅外熱像儀可以輕松達(dá)到71μm的光斑尺寸,且無需更換鏡頭。在此條件下,T560能夠針對尺寸為1.6mm×0.8mm的微小零部件進(jìn)行精確的溫度測量以及紅外熱成像。


FLIR的微距模式是一項創(chuàng)新功能,能夠幫助研發(fā)、質(zhì)量保證以及其他專業(yè)人員實現(xiàn)PCBA及其他電子產(chǎn)品部件測試的靈活性。搭配標(biāo)準(zhǔn)24?鏡頭可以用于檢測更大范圍或者整個PCBA。一旦發(fā)現(xiàn)熱點或者更小范圍的待測區(qū)域,啟用微距模式可以實現(xiàn)更深入的檢測及熱成像分析,且無需更換鏡頭。


專業(yè)軟件:簡化工作流程


在電子電路研發(fā)設(shè)計中,引入紅外熱像儀,對電子電路功耗設(shè)計和研究、散熱效果分析、PCB布局優(yōu)化、產(chǎn)品質(zhì)量檢測等方面有著不小的助力,但大量檢測結(jié)果的整理,對于研發(fā)人員來說也是不小的工作量,對此菲力爾設(shè)計了專門的分析和報告軟件——FLIR Research Studio。


FLIR Research Studio有一個混合選項,可以將熱圖像和可見光圖像相結(jié)合,用一個簡單的滑塊通過溫度分界線調(diào)整可見光與紅外的比例,直到它剛好適合您的需要。


FLIR Research Studio能為各種研發(fā)應(yīng)用場景提供強(qiáng)大的記錄和分析功能??赏瑫r顯示、記錄和評估多個FLIR熱像儀的數(shù)據(jù),讓您能夠快速解讀和理解關(guān)鍵信息。它還具有多語言和多平臺支持 (Windows、MacOS、Linux),可改善團(tuán)隊成員之間的協(xié)作、提高效率,并有助于減少因翻譯不佳而產(chǎn)生錯誤解讀的可能性。



紅外熱像儀通過對物體表面的熱(紅外電磁輻射)分布成像與分析,能夠快速發(fā)現(xiàn)物體的熱缺陷。目前已廣泛應(yīng)用于檢測PCB電路板、芯片、LED、新能源電池與節(jié)能、充電樁等各種電路和設(shè)備,是電子工程師做熱分析的必備工具。



FLIR T560專業(yè)紅外熱像儀

搭配Research Studio專業(yè)軟件

可在電子電路設(shè)計測試的各個流程中

提供簡便、快捷、精準(zhǔn)的檢測結(jié)果

為電子、航空航天、生命科學(xué)等

廣泛應(yīng)用領(lǐng)域的研究人員和工程師

提供極大的便利


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