最后是德科技表示希望與運(yùn)營(yíng)商、設(shè)備企業(yè)、芯片企業(yè)、終端企業(yè)、學(xué)術(shù)機(jī)構(gòu)更好地合作，深入了解其需求，以期為其“量身”定制整套的5G測(cè)試解決方案，助力其5G產(chǎn)品研發(fā)、成熟、部署。

R&S：面向5G的測(cè)試解決方案

R&S技術(shù)經(jīng)理CorbettRowell先生作大會(huì)報(bào)告，表示目前高階MIMO技術(shù)、大規(guī)模天線陣列技術(shù)是5G技術(shù)的重要研究方向。R&S研發(fā)的相關(guān)測(cè)量技術(shù)可把天線與RF分隔開——每個(gè)任務(wù)組可以同時(shí)測(cè)試288個(gè)天線端口，具備128×128的測(cè)量陣列，還可對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。

該技術(shù)經(jīng)理也表示在研究物聯(lián)網(wǎng)測(cè)試的時(shí)候，需使IoT能與5G網(wǎng)絡(luò)共存。

安立：5G測(cè)試的思考

安立有限公司研發(fā)中心總監(jiān)胡浩作大會(huì)報(bào)告，表示5G中各種新技術(shù)的出現(xiàn)，使測(cè)試儀表面臨以下三大挑戰(zhàn)：①高頻和低頻同時(shí)存在，這就要求儀表能支持很寬的頻譜；②對(duì)于多天線并行測(cè)試，儀表需具備多條通道；③5G引入D2D技術(shù)之后，必然會(huì)相應(yīng)要求測(cè)試儀表具備對(duì)新空口或新協(xié)議棧的綜合分析能力。

胡總監(jiān)認(rèn)為，從目前看來(lái)，已經(jīng)很難僅定義一個(gè)或一套儀表來(lái)滿足所有的5G測(cè)試要求。為此，安立提出“基于可編程空口”，以不同測(cè)試方案來(lái)靈活滿足不同測(cè)試需求。

對(duì)于5G測(cè)試儀表的未來(lái)需求，胡總監(jiān)提了三點(diǎn)想法，一是對(duì)于終端測(cè)試，要保證不同制式之間的移動(dòng)性、能支持多種射頻接入方式；二是測(cè)試儀表要設(shè)計(jì)多套射頻單元，以實(shí)現(xiàn)對(duì)不同頻段的測(cè)試；三是融合5G無(wú)線測(cè)試與光纖網(wǎng)絡(luò)測(cè)試。

思博倫：5GSDN/NFV測(cè)試解決方案