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5G終端射頻測(cè)試項(xiàng)解讀: 開關(guān)時(shí)間模板

前言


3GPP TS 38.521系列規(guī)范定義了5G終端射頻一致性測(cè)試要求,所有5G終端在研發(fā)、制造與認(rèn)證階段都需要按照38.521規(guī)范的測(cè)試要求進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試才能確保其正常工作。


本文針對(duì)TS 38.521-1規(guī)范(FR1頻段的SA模式下)的6.3.3.2 General ON/OFF time mask(通用開關(guān)時(shí)間模板)測(cè)試用例進(jìn)行深入解讀,以便相關(guān)測(cè)試人員更好理解。


測(cè)試目的


6.3.3.2測(cè)試?yán)菫榱蓑?yàn)證終端發(fā)射開功率和發(fā)射關(guān)功率的切換時(shí)間是否處于協(xié)議規(guī)范的“上下限”范圍內(nèi);錯(cuò)誤發(fā)射功率的增加會(huì)對(duì)其他信道產(chǎn)生干擾,也有可能增加上行鏈路中的發(fā)射錯(cuò)誤。


所以需要保證發(fā)射開功率和發(fā)射關(guān)功率的切換時(shí)間處于協(xié)議定義的上下限內(nèi),該上下限由3GPP組織共同協(xié)商,具體標(biāo)準(zhǔn)由3GPP組員共同決策后最終制定,并以文檔形式發(fā)布。


最低合規(guī)要求


LTE:


5G NR:



通過對(duì)比LTE和NR的最低合規(guī)要求總結(jié)出以下幾點(diǎn):


①測(cè)試周期由sub-frame縮小為slot,說明5G對(duì)UE的控制能力要求更高了。


②切換時(shí)間縮短了,由20μs縮短為10μs,說明5G對(duì)低時(shí)延的要求更高了。


③開始計(jì)算周期的位置不同了,LTE是從End of OFF power requirement的時(shí)候開始計(jì)算,NR是從Start of ON power requirement的時(shí)候開始計(jì)算。因?yàn)閱蝹€(gè)slot要不然是上行,要不然是下行,但是sub-frame中上下行slot中間存在保護(hù)間隔GP。


④開始時(shí)間模板考察的是UE開關(guān)功率的發(fā)射時(shí)間,但最終的測(cè)試要求的單位是dBm,因?yàn)閷?duì)于OFF POWER來講過早的開功率和過晚的關(guān)功率,對(duì)應(yīng)時(shí)間點(diǎn)的功率會(huì)偏大。


⑤“The OFFpower requirements does not apply for DTX and measurement gaps”意味著OFF POWER的測(cè)試要求,是要求End of OFF power requirement之前和Start of ON power requirement之后所有的時(shí)間的功率均要滿足協(xié)議要求,但并不包含Transient period。


測(cè)試描述


﹒測(cè)試條件包括環(huán)境條件(電壓&溫度)、測(cè)試頻段、測(cè)試信道,帶寬以及子載波間隔信息)。


該項(xiàng)測(cè)試需要遍歷電壓、溫度,信道,帶寬以及子載波間隔;如下圖所示,每個(gè)測(cè)試條件規(guī)范都會(huì)指明具體出處。


Test ID 是規(guī)范定義的測(cè)試場(chǎng)景編號(hào);如下圖所示,TS 38.521-1的6.3.3.2章節(jié)定義了場(chǎng)景 (Test ID1)。



Downlink & Uplink Configuration 定義了每個(gè)Test ID測(cè)試時(shí)上下行配置信息


注:Downlink Configuration 協(xié)議定義為:“N/A” 能否理解為不作要求。


此時(shí)應(yīng)遵循下表Default下行配置進(jìn)行RB數(shù)量以及小區(qū)電平等參數(shù)設(shè)置



Note解析(如下圖):



Note1:RB位置出處,詳情請(qǐng)參考Table 6.1-1章節(jié)


Note2:n28開關(guān)時(shí)間模板用例測(cè)試30M的時(shí)候只測(cè)試低高信道。因?yàn)?8.508-1規(guī)范只規(guī)定了低高信道。由于n28的上下行間隔比較窄,對(duì)雙工器要求比較高,上行可能會(huì)對(duì)下行產(chǎn)生干擾,所以全頻段的n28是需要兩個(gè)硬件通路,一個(gè)n28A(703MHz~733MHz),一個(gè)n28B(718MHz~748MHz)共同支持了一個(gè)完整的n28。n28A和n28B的頻率范圍都是30MHz,所以如果n28 30MHz時(shí)只測(cè)試高低信道,相當(dāng)于測(cè)試的時(shí)n28A和n28B的中信道,實(shí)際上能完全覆蓋整個(gè)射頻通路。


測(cè)試步驟


以下圖場(chǎng)景為例,基于安立MT8000A測(cè)試儀分解6.3.3.2的測(cè)試步驟:



一鍵設(shè)置注冊(cè)參數(shù):


在MT8000A的測(cè)試軟件界面左下方點(diǎn)擊Test Parameter ,在子菜單Test Specification選擇521-1(FR1 SA) ,在下方Test Parameter選項(xiàng)里針對(duì)Test Group選中TX-Time Mask,然后點(diǎn)擊 Apply ( 點(diǎn)擊Apply 后會(huì)覆蓋部分參數(shù)設(shè)置,所以需要先執(zhí)行這一步)。



完成基本的注冊(cè)設(shè)置


將終端 “射頻測(cè)試座” 通過射頻線連接至MT8000A測(cè)試口(默認(rèn)Slot1 main1口)


重啟終端或飛行終端,等待終端自動(dòng)連接上MT8000A,NR狀態(tài)顯示為Connected


點(diǎn)擊Single進(jìn)行測(cè)量, 讀取并記錄測(cè)試值(下圖為測(cè)試結(jié)果圖)



測(cè)試要求



根據(jù)TS 38.521-1 Table6.3.3.2.5-1要求,ON POWER必須在期望功率+/-9+TT的范圍內(nèi),OFF POWER必須小于-50+TT dBm。


以n78 30K SCS100M場(chǎng)景為例:n78 TT=1.8dB (如下圖所示),故ON POWER門限應(yīng)為 “9.8-9-1.8” ~ “9.8+9+1.8” =-1dBm ~ 20.6dBm;OFF POWER門限應(yīng)為 ≤-50+1.8= -48.2dBm



每個(gè)頻率和帶寬的TT可以參考Table 6.3.3.2.5-2


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