誤差矢量幅度(EVM)測量可以幫助工程師深入洞察數(shù)字通信發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的性能。對于數(shù)字調(diào)制信號(hào)，任何影響信號(hào)幅度和相位軌跡的信號(hào)缺陷，都會(huì)影響到EVM的測量及其結(jié)果顯示。

EVM測量為數(shù)字調(diào)制信號(hào)提供了一個(gè)簡單、定量的性能評定參數(shù)。

圖 1 顯示了對常見調(diào)制格式的解調(diào)分析。IQ 測量波形數(shù)據(jù)被分成兩路：一路進(jìn)入解調(diào)器恢復(fù)成原始數(shù)據(jù)比特，數(shù)據(jù)比特再經(jīng)過調(diào)制，得到 IQ 參考(理想)波形；另一路通過信號(hào)補(bǔ)償和測量濾波器的處理，得到 IQ 測量波形數(shù)據(jù)。信號(hào)誤差是參考波形與補(bǔ)償后的測量波形之間的差異。

某些無線標(biāo)準(zhǔn)(如Wi-Fi和LTE)使用分貝(dB)作為 EVM 結(jié)果的單位：

EVM (dB) = 20 log10 (EVM (%))

“工欲善其事，必先利其器”，作為EVM測試工具的信號(hào)分析儀，要求自身性能對EVM測量的影響要盡可能的小。因此，優(yōu)化信號(hào)分析儀的測量設(shè)置，也是EVM測量的關(guān)鍵，對于5G、Wi-Fi 6等寬帶信號(hào)的分析更是至關(guān)重要的。

實(shí)踐技巧1 : 優(yōu)化混頻器電平

無線通信標(biāo)準(zhǔn)均在最大輸出功率時(shí)來定標(biāo)EVM測量結(jié)果。通常可以控制信號(hào)分析儀中的第一級混頻器的功率電平，以確保大功率輸入信號(hào)不會(huì)導(dǎo)致信號(hào)分析儀失真?；祛l器電平的優(yōu)化設(shè)置取決于測量硬件、輸入信號(hào)的特性以及規(guī)范測試要求。

信號(hào)分析儀的非線性器件(如混頻器)在某些條件下可能會(huì)產(chǎn)生失真。當(dāng)輸入信號(hào)分析儀的信號(hào)功率過大時(shí)，該信號(hào)會(huì)導(dǎo)致輸入混頻器失真?？烧{(diào)輸入衰減則可避免輸入混頻器因大功率信號(hào)導(dǎo)致的失真。

【調(diào)整輸入衰減】

分析儀的輸入衰減器會(huì)降低進(jìn)入輸入混頻器的信號(hào)功率。但是，輸入混頻器電平設(shè)置是失真性能與噪聲靈敏度折中后的結(jié)果。在較高的輸入混頻器電平下，可以實(shí)現(xiàn)較好的信噪比(SNR)；而在較低的輸入混頻器電平下，失真比較小。性能優(yōu)異的信號(hào)分析儀可以提供精細(xì)步進(jìn)的輸入衰減，從而為優(yōu)化輸入混頻器電平提供更好的分辨率。

【打開內(nèi)置前置放大器】

在空口(OTA)測試以及測試系統(tǒng)插損較大的場景中，輸入信號(hào)電平可能會(huì)比最佳混頻器電平低一些。內(nèi)置的前置放大器具有更好的噪聲系數(shù)，在過低輸入電平時(shí)打開這一設(shè)置，可以保證輸入混頻器的信號(hào)保持在最佳的范圍。

實(shí)踐技巧2 : 優(yōu)化中頻數(shù)字轉(zhuǎn)換器的信噪比

寬帶毫米波的應(yīng)用是無線技術(shù)發(fā)展的趨勢。毫米波頻段的寬帶噪聲以及信號(hào)分析儀與待測件(DUT)之間過大的路徑損耗會(huì)導(dǎo)致數(shù)字轉(zhuǎn)換器的SNR降低，而SNR較低的話，會(huì)導(dǎo)致測量的EVM變差，從而不能準(zhǔn)確顯示出被測件的性能。

SNR對發(fā)射機(jī)測量的影響

信號(hào)分析儀的系統(tǒng)中頻(IF)噪聲必須要足夠低，才能獲得最佳的EVM測量結(jié)果。而另一方面，數(shù)字轉(zhuǎn)換器的輸入信號(hào)電平必須要足夠高，且不得導(dǎo)致數(shù)字轉(zhuǎn)換器過載。因此，需要根據(jù)待測的信號(hào)峰值電平對射頻衰減器、前置放大器和中頻增益值進(jìn)行綜合設(shè)置?，F(xiàn)代新型信號(hào)分析儀，可以實(shí)現(xiàn)單鍵優(yōu)化這些硬件設(shè)置，從而改善 SNR 并避免數(shù)字轉(zhuǎn)換器過載。

優(yōu)化 EVM測量，改善 5G NR信號(hào)解調(diào)分析

實(shí)踐技巧3 : 優(yōu)化相位噪聲

相位噪聲描述的是振蕩器的頻率穩(wěn)定性，會(huì)導(dǎo)致誤差矢量信號(hào)的相位分量出現(xiàn)誤差。信號(hào)分析儀的相位噪聲是造成EVM測量誤差的原因之一。為了獲得信號(hào)分析儀的最佳相位噪聲性能以進(jìn)行調(diào)制分析，不僅要考慮信號(hào)分析儀的相位噪聲曲線(近端和寬頻偏)，還要考慮輸入信號(hào)的工作頻率、帶寬和子載波間隔(OFDM 信號(hào))。

針對不同的操作條件，選擇特定的 LO相噪模式

信號(hào)分析儀本振信號(hào)的相位噪聲會(huì)轉(zhuǎn)換為信號(hào)分析儀混頻器的輸入。相位噪聲對IQ星座圖的直接影響是產(chǎn)生符號(hào)的徑向拖尾。在使用高階調(diào)制方案時(shí)，星座點(diǎn)距離更小，對EVM性能的要求也更高，應(yīng)確保信號(hào)分析儀的相位噪聲性能不會(huì)影響 EVM 測量結(jié)果，不讓信號(hào)分析儀的相位噪聲成為制約 EVM 測量的瓶頸。