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技術(shù)分析

開關(guān)電源測量總結(jié)

電子器件的電源測量通常情況是指開關(guān)電源的測量(當(dāng)然還有線性電源)。講述開關(guān)電源的資料非常多,本文討論的內(nèi)容為PWM開關(guān)電源,而且僅僅是作為測試經(jīng)驗(yàn)的總結(jié),為大家簡述容易引起系統(tǒng)失效的一些因素。因此,在閱讀本文之前,已經(jīng)假定您對于開關(guān)電源有一定的了解。

如何選擇危險廢物無機(jī)元素的檢測設(shè)備

隨著一系列危險廢物有害元素限制的國家標(biāo)準(zhǔn)的相繼出臺,固廢中的無機(jī)元素的檢測變得越來越重要;面對市面上多種技術(shù)和檢測設(shè)備,固廢處理企業(yè)應(yīng)當(dāng)如何進(jìn)行儀器選型?本文通過對幾項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的解讀,和主流技術(shù)儀器的對比,為用戶企業(yè)提供一定的參考。

PCI-Express Gen1 jitter測試問題分析以及解決方案

項(xiàng)目為一個云端運(yùn)算的產(chǎn)品,所有的高速和低速信號都要進(jìn)行信號完整性測試,其中包括高速串行信號PCI-Express Gen1( 簡稱PCIe Gen1)。PCIe Gen1信號分為CEM和base兩種情況,CEM的測試可以使用 PCI-sig協(xié)會的fixture直接進(jìn)行測試。