隨著光學(xué)、光電子技術(shù)的高速發(fā)展，光譜測量分析已不再局限于電信領(lǐng)域，在工業(yè)制造、生物研究、醫(yī)療保健、科學(xué)教育等領(lǐng)域?qū)梢娊t外波段高性能激光的應(yīng)用，推動了更寬波長范圍、更高分辨率、更快速度光譜測量分析的需求。
圖1 Ceyear 6362C光譜分析儀
當前，光譜測量分析技術(shù)面臨測試波長范圍窄、測試速度慢、邊模小信號尋找難、測試效率低等問題。為解決上述問題，思儀科技成功突破了可見近紅外波段（350nm-1200nm）高性能光譜分析技術(shù)，應(yīng)用在6362C光譜分析儀中，最小光譜分辨帶寬突破10pm。作為新一代光譜分析技術(shù)，Ceyear 6362C在保證分辨率的同時，掃描速度也獲得了突破，通過改變采樣點數(shù)、靈敏度、掃描速度等參數(shù)，單次掃描時間最快可突破200ms，極大地提高了測試效率，能夠清晰表征光譜細節(jié)信息，快速精細還原光譜特征。
圖2 633nm光源測試
6362C光譜分析儀具有高速、精確、靈活、可靠的技術(shù)特點，應(yīng)用范圍極為廣泛，主要性能如下：
思儀科技6362C光譜分析儀不僅滿足了當前的測試需求，也為未來的高速性能光譜測試分析奠定了堅實的技術(shù)基礎(chǔ)。
