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芯片突圍,測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)發(fā)揮更大作用

半導(dǎo)體技術(shù)是信息時(shí)代的基石,驅(qū)動(dòng)著全球范圍的現(xiàn)代經(jīng)濟(jì)發(fā)展。盡管多年來中國在半導(dǎo)體行業(yè)進(jìn)行了巨額投資,但在高端集成電路領(lǐng)域,中國仍依賴于美國的技術(shù)。目前中國的芯片年進(jìn)口額已超過原油,2018年總計(jì)達(dá)到3120億美元。

危機(jī)即是動(dòng)力

現(xiàn)在,美國對(duì)中國極限施壓,收緊芯片源頭;作為重要中轉(zhuǎn)地的香港又深陷亂局,對(duì)國內(nèi)芯片的進(jìn)口也產(chǎn)生了不利的影響。在這種局面下,快速提升國產(chǎn)芯片的競(jìng)爭(zhēng)力,提高進(jìn)口產(chǎn)品的可替代性成了我們刻不容緩的任務(wù)。

要擺脫受制于人的境地,我們需要解決的問題涵蓋整個(gè)行業(yè)的生態(tài)系統(tǒng)和供應(yīng)鏈,這注定需要一個(gè)長(zhǎng)期而艱苦的過程。從生產(chǎn)供應(yīng)來看,中國的芯片制造技術(shù)在快速發(fā)展,覆蓋了芯片設(shè)計(jì)、制造、封測(cè)三部分,總體呈現(xiàn)高速增長(zhǎng)狀態(tài);同時(shí)也存在工藝落后、產(chǎn)能不足、人才緊缺等問題。千里之行始于足下,如果每個(gè)人把能做的都做到極致,再遠(yuǎn)的目標(biāo)也終有實(shí)現(xiàn)的那一天。

我們可以做什么?

芯片是集成電路的物理載體。芯片生產(chǎn)是一個(gè)點(diǎn)砂成金的過程,從砂子到晶圓再到芯片,價(jià)值直線飆升。中間的技術(shù)含量十分密集。一塊晶圓經(jīng)過數(shù)個(gè)月的加工,在指甲蓋大小的空間中集成了數(shù)公里長(zhǎng)的導(dǎo)線和數(shù)以億計(jì)的晶體管器件,經(jīng)過測(cè)試,品質(zhì)合格的晶片會(huì)被切割下來,剩下的部分報(bào)廢。千挑萬選后,一塊真正的芯片終于誕生了。

在最后的測(cè)試階段,對(duì)芯片的bar條、chip的測(cè)試是不可或缺的步驟,它可以直接“告訴”生產(chǎn)人員,當(dāng)前的晶圓生產(chǎn)了多少合格的芯片。

圖片來自網(wǎng)絡(luò)

 

大多數(shù)芯片企業(yè)都是購買或自研“芯片測(cè)試系統(tǒng)”來進(jìn)行這項(xiàng)工作。無論采用哪種方式,橫河產(chǎn)品都可以為客戶提供最佳的產(chǎn)品支持。

何為芯片測(cè)試系統(tǒng)?

在這里我們主要關(guān)注針對(duì)DFB/FP激光器的產(chǎn)品,因?yàn)檫@兩類激光器是技術(shù)含量高、生產(chǎn)難度高、應(yīng)用廣泛的典型。

該類型產(chǎn)品主要用于光電生產(chǎn)企業(yè)的BAR條(LD芯片)光電性能檢測(cè),可測(cè)試長(zhǎng)波長(zhǎng)激光器BAR條的常溫、高溫條件下的前光、背光的LIV參數(shù)和光譜參數(shù),一般支持多種封裝的BAR條多種參數(shù)測(cè)試,有利于生產(chǎn)企業(yè)提高測(cè)試效率,提高產(chǎn)品的品質(zhì)把控。

系統(tǒng)要求:

1、全自動(dòng)測(cè)試;

2、支持高低溫檢測(cè);

3、可測(cè)量光譜、功率等多項(xiàng)參數(shù)。

在該系統(tǒng)的構(gòu)成中,除了必要的進(jìn)出料及傳送等機(jī)械部分,最核心的就是對(duì)激光器發(fā)光光譜的測(cè)量和芯片的供電及測(cè)試了。而這兩個(gè)部分,恰好就是橫河(YOKOGAWA)極為擅長(zhǎng)的領(lǐng)域,下面逐一向大家介紹。

激光器發(fā)光光譜測(cè)量和分析

橫河光譜儀占據(jù)著世界市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)地位,在功能性、耐用性、方便性等多方面領(lǐng)先于市面上的其他產(chǎn)品。

經(jīng)典的AQ637X系列光譜儀,涵蓋了350nm~3400nm的寬范圍,橫河的光譜儀都是基于衍射光柵原理開發(fā)的,可以準(zhǔn)確地對(duì)激光器的SMSR、OSNR進(jìn)行測(cè)量。

光譜分析儀AQ6360專為芯片生產(chǎn)領(lǐng)域需求量身定制,相比其他經(jīng)典型號(hào),它帶來了令人興奮的變化:

 

三大亮點(diǎn):

掃描范圍收窄、分辨率降低、掃描速度大幅加快。

為什么要做這些改進(jìn)呢?源自光譜儀老客戶的意見和需求。

AQ6370D的參數(shù)太好,在研發(fā)中使用非常合適,可是在生產(chǎn)中就顯得大材小用了,很多客戶只需要其中小部分功能和較低的參數(shù)就足以滿足需求了,更需要降低儀器成本。

所以AQ6360波長(zhǎng)范圍變?yōu)?200~1650nm,覆蓋了通信最常用的1310nm和1550nm。波長(zhǎng)分辨率最小是0.1nm,適用于激光芯片測(cè)試、EDFA測(cè)試、光器件測(cè)試等大多數(shù)應(yīng)用場(chǎng)合。同時(shí)為了更適合生產(chǎn)線使用,掃描速度提升到之前的2倍,體積也適當(dāng)變小了。

這些量身定做的改變,搭配上橫河傳統(tǒng)的自由空間光構(gòu)造設(shè)計(jì),在相同設(shè)置條件下,掃描速度可是AQ6370D的兩倍不止,能給客戶提升的產(chǎn)能是相當(dāng)可觀的。


 

AQ6360激光芯片掃描圖譜

掃描速度

選型時(shí)大部分客戶最為關(guān)注的就是掃描速度,因?yàn)閷?duì)激光芯片測(cè)試的企業(yè)來說,需要測(cè)試的芯片可能數(shù)以百萬為計(jì),所以提升每個(gè)芯片的測(cè)試效率就非常重要了。

@Sens: MID, x2 mode. Res 0.1 nm, Span 50 nm, 2001 points

波長(zhǎng)精度

有些客戶可能會(huì)質(zhì)疑:“AQ6360就是AQ6370D做了減配吧?”

對(duì)比AQ6360與AQ6150(波長(zhǎng)計(jì))就會(huì)發(fā)現(xiàn),AQ6360實(shí)際的波長(zhǎng)精度到底有多好——

AQ6360波長(zhǎng)精度指標(biāo)是0.02nm(20pm);

AQ6150波長(zhǎng)精度是1pm。

 

 

上圖對(duì)比可以看出AQ6360實(shí)際的精度要好于標(biāo)稱參數(shù),大概4pm左右,完全能夠跟市場(chǎng)上一些波長(zhǎng)計(jì)相媲美。它的性能和AQ6370D一樣出色!所以AQ6360可以給客戶帶來前所未有的“快感”,同時(shí)又能保證測(cè)試的精度。

 

芯片的供電與測(cè)試——SMU

源測(cè)量單元(SMU),顧名思義就是可編程電源和測(cè)量?jī)x表的結(jié)合體,既可電源輸出,又可以進(jìn)行測(cè)量。隨著對(duì)源和測(cè)量同步性要求的不斷提高,SMU在生物化學(xué)、超導(dǎo)材料、光電器件測(cè)試、半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域起到了越來越大的作用。

 

GS820工作時(shí)序圖

 

以對(duì)半導(dǎo)體激光器芯片進(jìn)行檢測(cè)為例,需要SMU輸出電流驅(qū)動(dòng)激光器,并測(cè)量光電傳感器的輸出電壓,同時(shí)使用光譜分析儀對(duì)激光器的發(fā)光波長(zhǎng)和光譜特性進(jìn)行檢測(cè)。

由于光電傳感器產(chǎn)生的電壓很小,需要源表具有很高的分解能力和測(cè)量精度。為了避免激光器過熱和提高檢測(cè)速度,驅(qū)動(dòng)電流需要以窄脈沖掃描的形式進(jìn)行輸出,這就對(duì)SMU的響應(yīng)和測(cè)量速度提出了很高要求。這樣的檢測(cè)工作在生產(chǎn)線上可能需要連續(xù)24小時(shí)進(jìn)行,SMU的穩(wěn)定性也至關(guān)重要。

 

 

SMU 源測(cè)量單元的關(guān)鍵參數(shù):

精度

精度是根本,高精度SMU的輸出和測(cè)量精度可以達(dá)到很高,然而這個(gè)精度指標(biāo)通常是有很多限制條件的,比如溫度范圍、保證時(shí)限等。保證精度的溫度范圍越寬,保證時(shí)限越長(zhǎng),實(shí)際測(cè)試過程中的精度才越有保障。

橫河GS200系列SMU的最高精度可達(dá)讀數(shù)的0.001%;在23±5℃的溫度范圍時(shí),一年的保證精度也可以達(dá)到讀數(shù)的0.016%;23±5℃溫度范圍以外時(shí),溫度系數(shù)更可高達(dá)±0.0008%/℃。

穩(wěn)定性

穩(wěn)定性是指SMU在進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)測(cè)量時(shí),精度的變化情況。影響穩(wěn)定性的因素有很多,如元器件的質(zhì)量、零部件的磨損老化、以及使用或貯存不當(dāng)?shù)取?

另外,SMU的實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景通常會(huì)連續(xù)測(cè)量較長(zhǎng)時(shí)間,會(huì)在SMU的機(jī)箱內(nèi)產(chǎn)生并積累熱量,如果散熱處理不當(dāng)也會(huì)對(duì)輸出和測(cè)量的精度帶來較大的影響。


GS200輸出穩(wěn)定性與其他公司產(chǎn)品對(duì)比

 

響應(yīng)速度

當(dāng)SMU的輸出通過掃描或編程頻繁進(jìn)行切換時(shí),輸出的響應(yīng)速度就變得尤為重要。

快速的響應(yīng)才能保證輸出對(duì)時(shí)間的準(zhǔn)確性,迅速而準(zhǔn)確地達(dá)到輸出值,而良好的震蕩抑制能夠確保電壓、電流輸出的穩(wěn)定,避免對(duì)被測(cè)對(duì)象產(chǎn)生不必要的沖擊。

 

結(jié)語

橫河優(yōu)秀的產(chǎn)品性能,吸引了越來越多的芯片廠家和系統(tǒng)集成商選擇基于橫河光譜儀和源表來搭建芯片測(cè)試系統(tǒng)。

隨著國內(nèi)的芯片生產(chǎn)從2.5G/10G向著25G/40G等更高的速率進(jìn)發(fā),站在測(cè)量?jī)x表行業(yè)前沿、具備深厚研發(fā)能力的YOKOGAWA希望能陪伴所有客戶一路前進(jìn),助力國內(nèi)芯片行業(yè)成長(zhǎng)和起飛。

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