"透過 NI PXI 技術為架構的新平臺，我們不僅保有量測的效能與精確度，并降低 3 倍的成本達到 10 倍的半導體檢驗速率。"——Ray Morgan, ON Semiconductor 

挑戰(zhàn):

 以低價位解決方案進行精確作業(yè)，并可透過軟件與硬件輕松升級，且同時提升新款與舊款半導體產(chǎn)品的檢驗速率。

解決方案:
 模塊化的 PXI 架構平臺可使用最新的處理器技術，并以更低的價位提升 10 倍的半導體檢驗速度，以取代昂貴的獨立測試設備。

更新測試系統(tǒng)以滿足業(yè)務需求

 安森美半導體 (ON Semiconductor) 公司需要低價位的解決方案，以提升新產(chǎn)品的檢驗速率。為了能縮短評估循環(huán)時間并降低成本，我們必須開發(fā)精確的系統(tǒng)，并可因應將來需要，輕松透過軟件與硬件進行升級。針對舊款的高速與金屬閘 (metal gate) 產(chǎn)品，新系統(tǒng)必須能處理其通道數(shù)量，亦要能用于新款的高速電壓準位編譯器。

 在半導體技術所有突破時，某些昂貴的獨立測試儀器可能隨之報廢。由于新一代的測試平臺具有足夠彈性，可跟上技術成長的步伐。因此我們要以最低成本取得可升級的效能，并能將之輕松整合至未來的應用。

 由于先前系統(tǒng)的量測速率受制于獨立儀器的處理器速度，與完整測試的設定作業(yè)，因此其隱性成本即為測試作業(yè)所需的時間。即使我們使用最常見的軟件平臺，欲自動化測試作業(yè)，但是執(zhí)行速度仍受限于系統(tǒng)內(nèi)速度最慢的獨立儀器。

 此外，我們必須針對測試系統(tǒng)的各個元件，降低其詳細檢驗所需的成本，所以儀控成本亦成為問題之一。對獨立儀器而言，亦必須提列額外成本以購買儀器可共享的備用元件，如儀器機箱、處理器，與電源供應器，以供不時之需。在仔細計算過后，我們甚至發(fā)現(xiàn)：若要以獨立儀器達到模塊化儀器平臺的效能，則必須多花 3 ~ 5 倍的成本。

PXI 測試系統(tǒng)的新設計

 我們的平臺可用于測試半導體裝置的 AC 與 DC 參數(shù)。在此之前，我們必須使用多組獨立高頻寬示波器，跨 16 個通道執(zhí)行 AC 參數(shù)的檢驗作業(yè)。在 PXI 平臺架構下，我們花費 20,000 美金購買 1 組 NI PXI-5154 - 1 GHz 示波器、2 組 NI PXI-2547 - 8x1 多工器，與所需的探針；即取代了 4 組 1GHz 示波器超過 60,000 美金的采購成本。在獲得量測效能與精確度的同時，我們更省下 3 倍的成本。除了節(jié)省成本之外，新平臺更可達到先前測試作業(yè)的 10 倍速度。

 在自動化測試系統(tǒng)中使用獨立儀器時，我們必須考慮 2 個主要變量：儀器之間相異的處理器速度，與連接所有儀器的總線速度。許多系統(tǒng)均以目前最常見的 GPIB 界面為架構。而模塊化儀器是以 PCI 背板為架構，可提升現(xiàn)有系統(tǒng)的傳輸率，且若必須提升系統(tǒng)以因應未來的需求，僅需購買配備最新處理器的 PXI 控制器，即可完成系統(tǒng)升級。

 解決 PXI 的移植難題

 要將系統(tǒng)移植到 PXI 平臺，必須解決多個難題，包含受測裝置的連結作業(yè)。若透過 4 組獨立示波器，我們可針對單一受測裝置，同步連接并中斷所有通道。而大多數(shù)的獨立示波器，均具備 1 組 50 Ω 與 1 組高阻抗 (1 MΩ) 的端點。

 而雙通道示波器的難題在于，受測裝置每次僅能中斷 2 組高阻抗或 50歐姆的訊號，而裝置上的其他訊號只能處于不受中斷的狀態(tài)。此平臺需要連結功能的解決方案，以低電容負載進行高頻寬的量測 – 此特性往往與獨立高速示波器 (Oscilloscope) 的主動式探針 (Active probe) 相關，而示波器 (Digitizer) 均未提供此功能。

 系統(tǒng)整合了由高阻抗啟動的主動式探針與探針電源供應器，不需降低輸入或輸出的負載，即可針對受測裝置進行取樣，并適時關閉所有通道。在此產(chǎn)業(yè)中，大多數(shù)半導體產(chǎn)品均可透過此方式檢驗 AC 的時序特性。而 PXI 架構的模塊化功能，可讓我們因應持續(xù)提升的半導體效能與速度，并可迅速修改測試平臺以滿足多變的量測需求。

 此外，我們針對儀器所建立的軟件界面，可讓工程師迅速熟悉并使用相關功能。我們同時導入 Systems Integration Plus Inc. (SPI Inc.)的服務而解決相關難題；SPI 公司屬于 NI 聯(lián)盟伙伴 (Alliance Partner) 的成員之一，位于亞利桑納州的 Scottsdale。該公司亦開發(fā)LabVIEW VI 或使用者界面中的子常式 (Subroutine)，以進行測試作業(yè)。

 大多數(shù)的測試工程師，均期待能夠旋轉(zhuǎn)示波器上的旋鈕。而虛擬儀控平臺的示波器差異在于，所有旋鈕僅需輕點鼠標即可動作。大多數(shù)的 PXI 儀器制造商均提供軟件人機界面，借以重現(xiàn)獨立儀器上的硬件前端。而我們使用 LabVIEW VI 替代了此想法，并讓我們針對應用，客制化使用者界面與量測常式。透過此方式，我們新一代的測試平臺可將系統(tǒng)負載降至最低，并縮短熟悉界面所需的時間。

 設立檢驗測試作業(yè)的新設計標準

 PXI 平臺為半導體設計的檢驗作業(yè)設立的新標準，并突破了先前測試方式的諸多限制。透過 NI PXI 技術為架構的新平臺，我們不僅保有量測的效能與精確度，并降低 3 倍的成本達到 10 倍的半導體檢驗速率。我們亦減少了測試系統(tǒng)的 PCB 腳位數(shù)量，可省下更多的空間。歸功于模塊化的 PXI 架構儀器，我們現(xiàn)在可獲得更高的效能。針對半導體檢驗作業(yè)常見的 AC 效能參數(shù)，PXI 可進行更精確的量測作業(yè)。